高压绝缘子污秽度参数之间的关系

　　在高压绝缘子的污闪机理分析中，是用污层表面电导率来表示污秽度的，这说明污层袁面电导率和污闪电压有着本质上的联系，可通过污层表面电导率建立起多种污秽度参数的内在联系。

　　(1)局部表面电导率)，和整体表面电导率仃之间的关系由于高压绝缘子金属附件和瓷件之间有空气间隙，造成污层间断，此因素造成整体表面电导率口的实际测量值偏小，且有很大的分散性。若能完全消除污层间断等因素的影响，则口值将和Y值相等。

　　(2)局部表面电导率)，和运行电压下的*大泄漏电流Ih之间的关系通过理论推导，可得到y和运行电压下的*大泄漏电流/ n之间的关系2 L(7-35)y一凳各In—乃工。/悬式高压绝缘子中，U代表运行电压;/代表高压绝缘子的泄漏距离。

　　(3)局部表面电导率y和等值附盐密度S。之间的关系通过大量的人工污秽试验，统计得出两者的关系为y - lOOOSd (7-36)

　　该试验是对人工污秽试品进行局部表面电导率测量获得的统计结果。在对等值盐密的讨论中提到，人工污秽试验的污秽度参数——盐密和污闪电压的相关性好，自然污秽高压绝缘子的污秽度参数——盐密和污闪电压的相关性不好;两种盐密不是一个概念，主要差别在于污物中可溶盐的构成不同。人工污秽污物中的可溶盐成分是NaCl，自然污秽中可溶盐成分复杂，可能主要成分是难溶于水的二价盐，如果能将自然污秽的盐密折算成人工污秽的盐密，或称作有效盐密，就可以和污闪电压建立起直接的联系。一种可能的方法是对自然污秽进行化学成分分析，根据一价盐和二价盐的比例进行折算，但此方法的花费太大，操作困难。式(7-35)给出了另外一种解决问题的思路，只要实测出自然污秽试品的局部表面电导率y，根据式(7-36)就可将实测出的)，值换算成Sd，按此方式得到的Sa避免了大水量溶解污物的测量方法造成的缺陷，代表了试品真实的污秽程度。

　　冲击电压作用下高压绝缘子的污闪机理

　　污秽高压绝缘子在雷电或操作冲击电压作用下的绝缘强度，与清洁高压绝缘子相比，也有相当程度的降低。因而，在雷电或操作冲击电压作用下，也有污闪的问题。在通常情况下，发生的污闪事故主要是指在运行电压下发生的闪络事故，在由雷电过电压和操作过电压造成的闪络事故中又很少有造成污闪的气象条件，因而往往忽略了污秽这个影响因素。对于潮湿脏污条件下高压绝缘子冲击电压强度降低的机理，目前尚无一致的看法与结论。

　　试验结果表明了污秽潮湿条件下，操作冲击电压的绝缘强度比清洁受潮状态下为低。采用不同的试验方法获得的试验结果差别很大，例如，有的试验结果表明，湿污状态对雷电冲击电压有影响，有的试验结果则无影响。几个有代表性的试验结果简述如下。

　　1.冲击电压下的污闪电压随污秽程度的增加而降低，下降的幅度则与高压绝缘子型式及污秽程度有关。

　　污秽分布状况对冲击电压下的绝缘强度也有影响，不均匀污秽分布比均匀污秽的绝缘强度还要低些，在同样受潮及脏污条件下可能低17%左右。此时，污秽高压绝缘子的操作冲击闪络电压值约为交流污秽电压峰值的2倍左右。

　　也有的试验表明，在中等程度的污秽条件下，高压绝缘子的操作冲击耐受强度将高于清洁潮湿耐受值，即使在重污秽下也仅造成很少下降或不下降。这种特性被认为是由于操作冲击电压的作用时间不足以在高压绝缘子表明上形成干燥带，或者湿污层多少改善了沿高压绝缘子串的电压分布。

　　2.试验时有无预加交流电压对冲击电压下的绝缘强度有显著的影响。

　　在污秽高压绝缘子上仅施加冲击电压，并不反映高压绝缘子的实际运行情况。实际运行情况是，除某些特殊情况外，污秽高压绝缘子在长期工作电压下，由于泄漏电流的热效应，在高压绝缘子表面已形成干区，这和没有工作电压长期作用的高压绝缘子表面状态不一样，此时再施加冲击电压，高压绝缘子的闪络过程有很大不同。因此，对污秽高压绝缘子来说，应在长时间工作电压作用的基础上再叠加冲击电压来试验才比较符合实际情况。

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